Продукция
Рентгенографические пластины с оптимальной формой.
Теперь с высокой точностью можно обследовать различные объекты
Для данных пластин были изобретены специальные инструменты, значительно снижающие неудобства использования и ограничения.
Теперь с высокой точностью можно обследовать различные объекты
Для данных пластин были изобретены специальные инструменты, значительно снижающие неудобства использования и ограничения.
Специальные химические продукты для неразрушающего контроля.
Химические реагенты для ручной и автоматической проявки промышленных рентгенографических пленок.
Совместимы с автоматическими машинами проявки любых производителей.
Химические реагенты для ручной и автоматической проявки промышленных рентгенографических пленок.
Совместимы с автоматическими машинами проявки любых производителей.
для стабильно высокого качества неразрушающего контроля
Техническая радиографическая пленка Fujifilm.Новейшие технологические разработки и компьютеризированного производственного процесса позволяют производить и поддерживать качество продукции от партии к партии.
Оптимальное сочетание качества изображения и совместимость со всеми химическими веществами для неразрушающего контроля, возможность работы с ручной и автоматической обработкой снимков.
Пленка Fujifilm сочетает в себе технологии зернистости и скорости, которые позвляют ее использовать в широком спектре со стабильным высоким качеством независимо от источника излучения и исследуемого материала
Техническая радиографическая пленка Fujifilm.Новейшие технологические разработки и компьютеризированного производственного процесса позволяют производить и поддерживать качество продукции от партии к партии.
Оптимальное сочетание качества изображения и совместимость со всеми химическими веществами для неразрушающего контроля, возможность работы с ручной и автоматической обработкой снимков.
Пленка Fujifilm сочетает в себе технологии зернистости и скорости, которые позвляют ее использовать в широком спектре со стабильным высоким качеством независимо от источника излучения и исследуемого материала